本產(chǎn)品為光學(xué)儀器(含X射線(xiàn))的檢測配置高低溫原位樣品環(huán)境的專(zhuān)用測試臺,通過(guò)精準控制樣品臺溫度實(shí)現樣品快速加熱或冷卻,觀(guān)測和記錄材料隨溫度變化過(guò)程中產(chǎn)生的結構和形貌變化,結合光學(xué)儀器的檢測手段采集應變數據做定量分析。
本產(chǎn)品為光學(xué)儀器(含X射線(xiàn))的檢測配置高低溫原位樣品環(huán)境的專(zhuān)用測試臺,通過(guò)精準控制樣品臺溫度實(shí)現樣品快速加熱或冷卻,觀(guān)測和記錄材料隨溫度變化過(guò)程中產(chǎn)生的結構和形貌變化,結合光學(xué)儀器的檢測手段采集應變數據做定量分析。
本產(chǎn)品適用于材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機化學(xué)、高分子及納米材料學(xué)針對材料特性的研究,與各種光學(xué)測試儀器或電子顯微鏡聯(lián)合使用,用戶(hù)可以自由設定溫度的階段變化,實(shí)現快速的加熱或冷卻樣品,在微觀(guān)上觀(guān)測材料的形貌變化,結合光學(xué)儀器的測試數據可對內部結構變化做定量分析。